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在上一篇中,我们揭示了半导体测试面临的核心挑战,并介绍了数据前馈/反馈(DFF)机制如何打破数据孤岛,实现测试流程的智能化转型。
本篇将聚焦于DFF的核心驱动引擎——ACS Nexus,看看它如何在真实生产中创造价值,并推动测试从“执行”走向“决策”。
核心能力:ACS Nexus如何赋能智能测试?
在整个ACS RTDI平台中,ACS Nexus是连接测试现场与数据智能的关键枢纽。
核心能力概览:
实时数据采集:在测试过程中,ACS Nexus可持续采集关键数据,包括测量值、测试结果、设备状态等。智能数据流转:支持数据在测试流程中前馈至后段,或从后段反馈至前段,实现流程闭环。灵活数据结构:兼容标准数据与用户自定义数据,适应多种测试需求与客户场景。安全稳定传输:具备加密通信与异常处理机制,保障数据在高负载环境下的稳定性。快速接入与部署:支持标准化接口,客户可快速集成,无需改动原有测试架构。开放接口:支持C++和Python,通过OneAPI和NexusTPI实现测试程序与应用的双向通信。超易用:ACS Nexus在接口设计上追求“简洁而强大”,将复杂性尽可能地封装在系统内部。毫秒级响应:测试数据上传和查询最快可达毫秒级,满足高并发场景。
打通测试全流程:DFF如何让数据参与实时决策?
与传统事后分析不同, DFF 机制让不同阶段的数据在生产过程中实时协同,参与决策。
工作流是这样的:
1.数据写入:在测试执行过程中,ACS Nexus实时采集标准测试数据(如测量值、Bin结果)并上传;测试程序通过 NexusTPI 上传自定义数据,同时应用程序可通过 OneAPI 上传算法推理结果或统计信息。
2.数据流转:所有数据在 ACS Unified Server 中根据用户设定的规则进行筛选,并按需前馈到后续测试阶段或反馈到前段流程。例如,上图中晶圆测试数据被传递到封测厂的服务器。
3.数据分析:在最终测试阶段,测试程序或应用程序可以通过 NexusTPI / OneAPI查询指定芯片的晶圆阶段数据,并结合当前测试数据进行综合推理。
4.实时决策:测试程序通过 NexusTPI与应用程序交互,获取最新推理结果,从而动态调整后续测试流程。
这一闭环让测试流程具备“即时反应”能力:数据不仅被记录,更成为驱动优化的基础,支持客户构建更灵活、更智能的测试策略。
应用落地:DFF如何在真实生产中创造价值?
降低测试成本:自适应测试流程
在传统测试中,每个芯片都需要执行完整的测试流程;随着芯片变得越来越复杂,生产周期要求越来越短,这种测试方法面临许多挑战:
大量的测试项目需要大量的测试时间。固定顺序的测试流程难以满足客户的灵活性要求。一些高风险的测试项目无法优先处理,导致资源利用不足。
有DFF之后,可以这样做:
1.在最终测试开始前,应用程序通过 OneAPI获取该芯片在晶圆阶段的数据,并结合当前数据进行分析。
2.算法识别低风险项并生成绕过列表,通过 NexusTPI回传给测试程序。
3.测试程序在同一批次内调整执行顺序,跳过冗余测试,优先处理关键项。
4.后续测试结果还能反馈到晶圆厂,进一步优化下一批策略。
通过这种跨阶段数据驱动的动态调整,测试流程不再“一刀切”,而是针对每个芯片动态调整,减少测试时间,同时保障质量。
提升芯片质量:DFF + DPAT
汽车芯片对可靠性要求极高,任何缺陷都可能带来巨额损失。DPAT(动态参数调整与测试)依赖当前批次数据,初始参考值通常在测试一定数量芯片后才计算,这意味着早期出货仍存在风险。
有DFF之后,可以这样做:
多台设备生产同类芯片时,DFF让这些设备实现数据共享,DPAT算法可基于更大数据集动态调整测试限值,识别潜在缺陷更精准。测试程序在测试开始时即可获取最新限值,并在随后的参数测试中应用,降低误判率,减少PPM缺陷率。
跨机台的数据协同让DPAT从“批次优化”升级为“全线优化”,满足AEC-Q001 Rev-D等高标准。
重塑测试流
半导体测试正面临数据量激增、流程复杂和效率压力。DFF提出的新机制,让不同阶段的数据协同工作:晶圆测试结果可以提前优化封装测试,后道测试数据也能反向调整前道策略。这种机制让测试策略更灵活,并为质量控制提供更充分的数据支持。
ACS Nexus作为DFF的核心引擎,提供开放接口和安全架构,支持客户算法快速集成,帮助构建跨阶段的数据闭环,加速测试流程智能化,推动制造走向数据驱动时代。
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